Este microscopio, con doble utilidad, fuerza atómica y efecto túnel, ha sido desarrollado para la caracterización y visualización de muestras en dimensiones nanométricas (una millonésima parte de un milímetro). El microscopio de fuerza atómica AFM es una herramienta útil para caracterización a nivel de topografía, dureza, adhesión y medidas in situ, entre otros.

El microscopio efecto túnel es utilizado para “ver” regiones de alta o baja densidad electrónica superficial, y con ello se puede inferir la posición de moléculas e inclusive, de átomos individuales en la superficie de un material ya que la resolución en la escala de de los angstrom. Estos equipos son comunmente usados para microelectrónica, capas finas, caracterización de materiales orgánicos e inorgánicos, polímeros y materiales compuestos y muestras biológicas, entre otras.